薄膜厚度测厚仪的原理和标准
发布时间:2019/02/25 10:46编辑:赛成科技

薄膜厚度测厚仪的原理


将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上,与下测量面平行且中心对齐的上测量面。


以一定的压力,落到薄型试样的另一面上,同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离,即为薄型试样的厚度。


薄膜厚度测厚仪的标准


ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、

ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702

中国《药品生产质量管理规范》(GMP)对软件的有关要求(可选配置)


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